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公司基本資料信息
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產(chǎn)品詳細(xì)說明
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分 辨力
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