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公司基本資料信息
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產(chǎn)品詳細(xì)說明
電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是一樣的意思,針對的是同一類同一標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱,此類試驗(yàn)箱是提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)必備的試驗(yàn)設(shè)備，結(jié)構(gòu)分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸*小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選擇,也可定制非標(biāo)尺寸）
2.外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；
4.升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min；
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；
6.降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式： 氣動(dòng)風(fēng)門切換
8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
9.溫度偏差： ±2.0℃
10.溫度波動(dòng)度： ±0.5℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘
12.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；
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