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CME-Mo系列光譜儀/單色儀特點：
◆ 150mm，300mm，500mm，750mm等多種焦距可選，適應不同光譜帶寬需求；
◆光學結構采用經典的Czerny-Turner結構，有效改善譜線對稱性和提高光學分辨率，消二次色散設計，有效抑制雜散光；
◆多光柵塔臺設計，更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢，并可根據需要組合以滿足不同；
◆光柵采用大面積光柵，有效提高了收集光效率；
◆多種光柵可以選擇，適應不同光譜波段，覆蓋UV-VIS-IR范圍；
◆針對紅外（>1μm）波段的***化設計，光學鏡片采用鍍金膜設計，提高紅外光反射效率；
◆儀器的控制（如光柵轉換、波長掃描等）全部由計算機控制；
◆全新的DSP芯片設計使得出入口的選擇更加具有靈活性，可根據需要選擇雙入-出口；雙入-出口的控制通過計算機軟件自動控制，定位更精準；
◆可連接我公司任意一款單點探測器和其它附件，還可以連接線陣、面陣探測器做攝譜儀使用。與光源、探測器（單點探測器和陣列CCD等）組合搭建，實現任意光譜系統組合方案，如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光譜系統等；
◆配有充氮氣專用口，便于在紫外和近紅外有大氣吸收譜的波段范圍內使用；
◆光學室和機械傳動室嚴格分開，避免后者產生雜散光及潤滑油微量揮發對光學件的污染；
◆可選：自動濾光輪、電子快門、自動狹縫。
技術參數表（@1200g/mm光柵條件下）
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CME-Mo150 |
CME-Mo300 |
CME-Mo500 |
CME-Mo750 |
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λ焦距(mm) |
150 |
300 |
500 |
750 |
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相對孔徑 |
f/4.2 |
f/3.9 |
f/6.5 |
f/9.7 |
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光學結構 |
C-T |
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機械掃描范圍(nm) |
0-2200 |
0-3200 |
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分辨率(nm) |
0.4 |
0.1 |
0.05 |
0.03 |
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倒線色散(nm/mm) |
5.4 |
2.7 |
1.7 |
1.1 |
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波長準確度(nm) |
±0.25 |
±0.2 |
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波長重復性(nm) |
±0.1 |
±0.1 |
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掃描步距(nm) |
0.01 |
0.005 |
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焦面尺寸(mm) |
25(W)×10(H) |
25(W) ×14(H) |
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光軸高度(mm) |
134 |
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狹縫規格 |
縫寬：0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫；縫高：2，4，10，14mm可選。 |
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光柵尺寸(mm) |
32×32 |
68×68 |
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光柵臺 |
雙光柵 |
三光柵 |
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外型尺寸(mm) |
298×200×185 |
390×278×204 |
560×320×204 |
800×450×204 |
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重量(kg) |
10 |
16 |
22 |
32 |
光路圖：
