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公司基本資料信息
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1.測量元素范圍:鈦Ti22---鈾U92;
2.測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層,同時分析15種元素,自動修正X射線重疊譜線;
3.測量精度高、穩定性好,測量結果精確至μin;
4.快速無損測量,測量時間短,10秒內得出測量結果;
5.可分析固體、溶液;定性、半定量和定量分析;
6.進行貴金屬檢測,如Au karat評價;
7.材料鑒別和分類檢測,材料和合金元素分析,元素光譜定性分析;
8.強大的數據統計、處理功能:平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、
CPK、控制上限圖、控制下限圖,數據分組、X-bar/R圖表、直方圖;
9.結果輸出:直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件;報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等;
10.測量位置預覽功能;高分辨率彩色CCD樣品觀察系統,標準光學放大倍數為30倍;
11.激光對焦和自動對焦功能;單擊鼠標,Z軸自動掃描,鐳射聚焦;
12.擁有NIST認證的標準片。
三、X-Strata920鍍層測厚儀安全性:
1.簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權
2.主管人員可進行系統維護
3.系統自動生成操作員的使用記錄
4.自動鎖定功能防止未授權的操作
5.Z軸保護傳感器
6.安全防射線光閘
7.樣品室門開閉傳感器
8.X射線鎖
9.X射線警示燈
10.緊急停止按鈕
11.前面板安全鈕和后面板安全鎖。
一款操作簡單的質量控制分析儀,滿足鍍層厚度測量和材料分析。