非全新牛津鍍層測厚儀CMI900系列銷售
CMI900鍍層測厚儀整體描述:
CMI900是一臺高精度、快速、無損、微聚焦能量射散型X射線熒光鍍層厚度和元素分析系統,可分析的鍍層元素為元素周期表上22TI到92U,牛津儀器基于WINDOWS XP操作系統開發了Smartlink? FP測量軟件和LE報告生成器)
CMI900用于鍍層厚度測量以及分析鍍層金屬成分、鍍液,是一款專用鍍層測厚儀、(印制線路板之金/鎳、錫/鉛、錫/銀等)的非破壞性精確測量及材料成分分析。
CMI900鍍層測厚儀用途:
1.多鍍層金屬厚度測
2.合金鑒定及化學分析
3.電鍍液分析
4.金成色分析
CMI900鍍層測厚儀特征:
應用X射線熒光原理測量,精確度高且不破壞樣品。
NIST(美國國家標準和技術學會)認可的標準片。
CMI900系列膜厚測試儀能夠測量多幾種形狀,各種尺寸的樣品;并且測量點*小可達0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選擇用,分別為:標準樣品臺,XY軸固定,Z軸自動控制;擴展型標準樣品臺,XY軸固定,Z軸自動控制;可調高度型標準樣品臺,XY軸手動控制、Z軸自動控制;程控樣品臺,XYZ軸自動控制;超寬程控樣品臺,XYZ軸自動控制。
CMI900鍍層測厚儀技術參數:
測量元素:22(TI)-92(U)
測量層數:5層(4層鍍層+基材層)
X射線管功率:50W
X射線管靶材:鎢
可安裝準直器數量:4個
外形尺寸:610*1037*375mm(自動標準臺)
非破壞性鍍層測厚儀
深圳市譜賽斯科技有限公司提供CMI900鍍層測厚儀,CMI700涂層鍍層測厚儀,CMI500銅厚測厚儀,CMI165等涂鍍層測厚儀,元素分析儀,無損檢測測厚儀.是中國大陸的牛津儀器一級代理,專業銷售維修:CMI900 X-Strata920 FT系列等各種型號涂鍍層測厚儀,擁有一支經驗豐富的服務團隊,為客戶提供及時,優質的售前/售后服務和技術支持。