牛津X-Strata920測厚儀您想了解的工作原理

什麼是X射線，X射線是和可見光線一樣也是電磁波的一種，不同的是它的波長較之可見光為短，在100Å到0.1Å之間。同時，與一般的電磁波相比，X射線能夠比較容易的穿透物質(zhì)，其穿透強度是隨包含在物質(zhì)里的原子的原子序號變小而增加。熒光X射線分析是利用X射線照射在物質(zhì)上時，發(fā)生的固有的X射線（熒光X射線）的方法而設(shè)計的。熒光X射線照射在物質(zhì)上，構(gòu)成的物質(zhì)其原子的內(nèi)核電子受到X射線的轟擊，能量增加，于是內(nèi)層電子向外層遷移，同時外層電子向內(nèi)層遷移，由于外層電子所具能量高，在向內(nèi)層遷移時，便放出能量，此剩余的能量以電磁場的形式放出，既為熒光X射線。

X-Strata920系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。基于Windows 7中文視窗系統(tǒng)的中文版Smartlink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對X-Strata920主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)
據(jù)分析模式。